研究方向 |
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計畫名稱 | 執行期間 | 補助單位 |
使用矽穿孔之三維晶片中測試問題之研究(I)
計劃編號: |
99年8月 至 100年7月 | 國家科學委員會 |
積體電路與可靠度設計與測試關鍵技術研發
計劃編號: |
97年10月 至 100年9月 | 經濟部 |
測試低功率設計與低功率測試:測試中功率問題之研究
計劃編號: |
97年8月 至 99年7月 | 國家科學委員會 |
以延遲錯誤測試為目標之整合設計自動化環境
計劃編號: |
95年8月 至 97年7月 | 國家科學委員會 |
轉態錯誤為導向之高階測試合成
計劃編號: |
94年8月 至 95年7月 | 國家科學委員會 |
測試資料壓縮之研究
Test Data Compression 計劃編號:NSC 93-2215-E-005-009 |
93年8月 至 94年7月 | 國家科學委員會 |
系統晶片環境中暫存器傳遞層測試之研究
RTL Testing for SOC 計劃編號:NSC 92-2218-E-005-007 |
92年8月 至 93年7月 | 國家科學委員會 |
低功率邏輯設計方法及其計算機輔助設計工具
Low-Power Logic Design Methodology and Related Computer-Aided Design Tools 計畫編號:NSC 91-2215-E-005-004 |
91年8月 至 92年7月 | 國家科學委員會 |
容錯計算系統中整合式同時測試方法之分析與設計
Design and Analysis of Hybr id Concur rent Testing for Fault-Tolerant Computing Systems 計畫編號:NSC 90-2213-E-005-032 |
90年8月 至 91年7月 | 國家科學委員會 |
高速匯流排界面之分析與設計
Design and Analysis of High Speed Bus Inter face 計畫編號:NSC 89-2213-E-005-047 |
89年8月 至 90年7月 | 國家科學委員會 |
內建自我測試及其在高層設計中應用之分析
Analysis of Built-In Self-Test and its Applications in High-Level Design 計畫編號:NSC 89-2215-E-005-004 |
88年8月 至 89年7月 | 國家科學委員會 |
現場可程式邏輯閘陣列中之錯誤診斷
Fault-Diagnosis in Filed Programmable Gate Arrays 計畫編號:NSC 88-2215-E-005-003 |
87年8月 至 88年7月 | 國家科學委員會 |
前瞻性微處理機設計與製造(第三年)
子計劃十:匯流排介面 計劃編號:NSC 85-2622-E-009-0102 |
87年7月 至 88年6月 | 國家科學委員會 |
對微處理機系統之測試的一致性測試方法之研究
A Unified System-Level Testing Method for Microprocessor-Based Systems 計劃編號:NSC 87-2213-E-005-016 |
86年8月 至 87年7月 | 國家科學委員會 |
前瞻性微處理機設計與製造(第二年)
子計劃十:匯流排介面 計劃編號:NSC 85-2622-E-009-0102 |
86年6月 至 87年6月 | 國家科學委員會 |
前瞻性微處理機設計與製造(第一年)
子計劃十:匯流排介面 計劃編號:NSC 85-2622-E-009-0102 |
85年6月 至 86年5月 | 國家科學委員會 |
超大型積體電路中之整體測試環境產生
Integrated Test Generation for VLSI Circuits 計劃編號:NSC 83-2215-E-005-005 |
84年2月 至 84年7月 | 國家科學委員會 |
超大型積體電路中之整體測試環境產生
Integrated Test Generation for VLSI Circuits 計劃編號:NSC 83-0404-E-005-010 |
83年2月 至 84年1月 | 國家科學委員會 |
作為高速分封交換機之容錯交連網路設計
Design of Fault-Tolerant Multistage Interconnection Network for Fast Packet Switch Architecture 計劃編號:NSC 83-0404-E-005-001 |
82年8月 至 83年7月 | 國家科學委員會 |
加強民眾陳情案處理行政業務自動化系統 | 82年2月 至 83年1月 | 南投縣政府環保局 |
Last Update On: Nov. 6, 2010